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上海求峰儀器設(shè)備有限公司由具有多年半導(dǎo)體經(jīng)驗(yàn)的資深技術(shù)團(tuán)隊(duì)發(fā)起，專(zhuān)注于半導(dǎo)體光刻及曝光、膜厚測(cè)量、缺陷檢測(cè)、電性測(cè)量、應(yīng)力測(cè)量等，我們立志成為半導(dǎo)體光刻Litho、量測(cè)Metrology和檢測(cè)Inspection的專(zhuān)業(yè)級(jí)供應(yīng)商，為科研、前道工藝開(kāi)發(fā)、封裝、光刻膠、硅片/化合物半導(dǎo)體襯底和外延等領(lǐng)域貢獻(xiàn)力量。...
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2025年4月，我司成交一臺(tái)MX608非接觸電阻率測(cè)試儀，最大可測(cè)8寸Wafer，可測(cè)量Si/SiC等導(dǎo)電襯底電阻率和TTV。...
2023年11月，我司取得江陰某先進(jìn)封裝FAB一臺(tái)SR-Mapping膜厚儀訂單，波段380-1000nm，厚度范圍15nm-150um，用于膜厚和反射率工藝監(jiān)控。...
2023年6月，我司成交一臺(tái)Flex-Mount原子力顯微鏡，最大可測(cè)8寸Wafer，可測(cè)量晶圓的臺(tái)階及粗糙度。...
2023年2月，我司取得南京某光電企業(yè)一臺(tái)SR-C膜厚儀訂單，波段380-1650nm，用于膜厚和反射率工藝監(jiān)控。...
2022年9月，我司成交一臺(tái)FSM 128L薄膜應(yīng)力儀，最大可測(cè)12寸Wafer，可測(cè)量薄膜的Stress/Bow。...
2022年3月，我司成交一臺(tái)333A四探針測(cè)試儀，最大可測(cè)12寸Wafer，可測(cè)量金屬薄膜厚度及方塊電阻。...
2022年8月，我司成交一臺(tái)SE-VM光譜橢偏儀，波長(zhǎng)380-1650nm，用于VCSEL光芯片中薄膜厚度和折射率測(cè)量。...
2022年10月，我司成交一臺(tái)KC-31空氣粒子計(jì)數(shù)器，適合監(jiān)控千級(jí)無(wú)塵室顆粒狀況。...
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